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        高熱驚厥后多長時(shí)間做腦部檢查

        參與醫(yī)生

        南方醫(yī)科大學(xué)順德醫(yī)院 龍敏躍 副主任醫(yī)師
        高熱驚厥是兒童期常見的神經(jīng)系統(tǒng)疾病,是兒科常見的急癥之一,是指體溫超過38℃時(shí)發(fā)生的驚厥,并排除顱內(nèi)感染及其它導(dǎo)致驚厥的器質(zhì)性或代謝性疾病。各年齡段小兒均可發(fā)生,以5個(gè)月-6歲多見,發(fā)病率約為2%-5%。一旦明確診斷,應(yīng)及時(shí)去醫(yī)院診治。高熱驚厥是一種相對(duì)良性的疾病,絕大多數(shù)患兒不會(huì)引起永久性的神經(jīng)系統(tǒng)后遺癥。為了排除顱內(nèi)病變,臨床上建議驚厥發(fā)作后進(jìn)行腦部影像學(xué)和腦電圖檢查。一般來說,驚厥發(fā)作后7-10天仍然可見異常腦電圖。所以建議在退熱10天后進(jìn)行腦電圖檢查,以消除發(fā)熱和驚厥后改變對(duì)腦電圖的影響。
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